半導体CV特性測定器 TECHMIZE 型式:TH512【国内正規品】

販売価格(税抜):¥3,920,000

 

■製品仕様:
Ciss、 Coss、 Crss、 Rg、 スポット・テスト、
リスト・スキャン、
テスト周波数: 1kHz-2MHz、
VGS: ±40V、 VDS: ±1500V、 2チャンネル

製品詳細

■アプリケーション

• 半導体コンポーネント/電力コンポーネント

ダイオード、トライオード、MOSFET、IGBT、サイリスタ、統合回路、光電子チップなどの寄生容量テストおよびC-V特性分析

• 半導体材料

ウェハー、C-V特性分析

• 液晶材料

弾性定数分析

• 電気容量要素

コンデンサC-V特性テストおよび分析、電気容量センサーテストおよび分析

 

仕様

型名 TH511 TH512 TH513
チャンネル数 2 (4/6 Ch Optional) 2
ディスプレイ ディスプレイ 10.1-inch capacitive touchscreen
アスペクト比 0.672916667
解像度 1280*RGB*800
測定パラメータ Ciss, Coss, Crss, Rg. Four parameter selectable arbitrarily
テスト周波数 範囲 1kHz-2MHz
確度 0.0001
分解能 10mHz          1.00000kHz-9.99999kHz
100mHz        10.0000kHz-99.9999kHz
1Hz                100.000kHz-999.999kHz
10Hz              1.00000MHz-2.00000MHz
テスト・レベル 電圧範囲 5mVrms-2Vrms
確度 ± (10%*Setting Value+2mV)
分解能 1mVrms           5mVrms-1Vrms
10mVrms         1Vrms-2Vrms
Vgs 範囲 0 – ±40V
確度 1%* Setting Voltage+8mV
分解能 1mV                 0V – ±10V
10mV               ±10V – ±40V
Vds 範囲 0 – 200V 0 – 1500V 0 – 3000V
確度 1%* Setting Voltage+100mV
出力インピーダンス 100Ω, ±2%@1kHz
偏差測定機能 Absolute deviation Δ from nominal value, percent deviation from nominal value Δ%
補正機能 OPEN, SHORT, LOAD
アベレージ 1-255 times
測定時間 (ms/time) Fast+: 0.56ms (>5kHz), Fast: 3.3ms, Middle: 90ms, Slow: 220ms.
基本確度 0.001
Ciss, Coss, Crss 0.00001pF – 9.99999F
Rg 0.001mΩ – 99.9999MΩ
Δ% ±(0.000% – 999.9%)
リスト掃引 ポイント数 20 spots, the average number can be set for each spot, and each spot can be sorted separately
パラメータ Test Frequency, Vg, Vd, Channel
トリガ・モード Sequence SEQ: After one trigger, measure at all sweep points, /EOM/INDEX output only once.
Step: perform a sweep point measurement per trigger, each point outputs /EOM/INDEX, but the list scan comparator result is only output at the last /EOM
トレース掃引 ポイント数 Any Spot is optional, up to 1001 Spots
測定結果 Multiple curves with the same parameter and different Vg;
multiple curves with the same Vg and different parameters.
表示範囲 Real-time automatic, locked
座標軸 Logarithmic, linear
パラメータ Vg, Vd
トリガ・モード シングル Manual trigger once, complete one scan from the start spot to the end spot, and start a new scan with the next trigger signal
連続 Infinite loop scan from the start spot to the end spot
測定結果のセーブ Graphics, files
コンパレーター Bin 10Bin, PASS, FAIL
Bin偏差設定 Deviation, Percent Deviation, Off
Binモード Tolerance, continuous
Binカウント 0-99999
Bin判定 A maximum of four parameter limit ranges can be set for each bin. The corresponding bin number will be displayed within the setting range of the four test parameter results. If it exceeds the set maximum bin number range, FAIL will be displayed. Test parameters without upper and lower limits will be automatically ignored.
PASS/FAIL表示 Satisfy Bin1-10, the PASS light on the front panel is on, otherwise the FAIL light is on.
データ・キャッシュ 201 measurement results can be read in batches
セーブ/リコール 内部 About 100M non-volatile memory test setup file
外部USBメモリ Test setup files, screenshots, log files
キーボード・ロック Lockable front panel buttons, other functions to be expanded
インターフェース USBホスト 2 USB HOST interfaces, which can be connected to the mouse and keyboard at the same time, and only one U disk can be used at the same time
USBデバイス Universal Serial Bus socket, small type B (4 contact positions); compliant with USB TMC-USB488 and USB2.0, female connector for connecting external controllers.
LAN 10/100M Ethernet, 8 pins, two speed options
ハンドラー Used for Bin signal output
RS232C Standard 9-pin, crossed
RS485 Can receive modification or external RS232 to RS485 module
起動後の暖機時間 60 Minutes
電源 100-120VAC/198-242VAC Option, 47-63Hz
消費電力 More than 130VA
寸法 (W*H*D) mm 430*177*405
重量 12kg

 

アクセサリ

標準付属アクセサリ
名称 型名
テスト・フィクスチャ TH26063B
テスト・フィクスチャ TH26063C
TH510 フィクスチャ制御接続ケーブル TH26063D
TH510 測定延長ケーブル TH26063G

 

ダウンロード

Specification of TH510 series 2023.08.pdf  Download
TH510 Series English Manual.pdf Download

お問い合わせ

    残り1000文字入力可能(最大1000文字まで)

    プライバシーポリシーをお読みいただき、下の□にチェックをお願いします。

    送信前に入力内容にお間違いがないか、今一度ご確認ください。

    商品一覧へ戻る