自動トランス・テスト・システム TECHMIZE 型式：TH2840BX【国内正規品】

販売価格(税抜):¥1,119,000

■製品仕様：
24Pin、確度: 0.05%、テスト周波数: 20Hz-2MHz、
テスト電圧: 20Vrms、 DCバイアス: ±40V/100mA、
ビルトイン2Aバイアス電流源、
10.1インチ・タッチスクリーン、 Linux

製品詳細

アプリケーション

■ スイッチングトランスフォーマのスキャンテスト、総合的な特性分析。

■ ネットワークトランスフォーマのスキャンテスト、総合的な特性分析

■ 離散型パッシブコンポーネント（L、R、C）のマルチチャンネルスキャンテスト

■ リレードライブラインパッケージ、接点抵抗のマルチチャンネルスキャンテスト

■ マルチチャンネルDC抵抗（DCR）のスキャンテスト

■ インピーダンスネットワーク内の複数のパッシブコンポーネントの包括的なテスト分析

仕様

型名		TH2840AX	TH2840BX	TH2840NX
ディスプレイ	ディスプレイ	10.1″ Captive Touch Screen
	アスペクト比	16:09
	解像度	1280×RGB×800
テスト・ピン		20PIN(By TH1806)		48PIN(Can extend to 288PIN)
周波数	範囲	20Hz-500kHz	20Hz-2MHz	20Hz-500kHz
	確度	0.01%
	分解能	0.1mHz (20.0000Hz-99.9999Hz)
		1mHz (100.000Hz-999.999Hz)
		10mHz (1.00000kHz-9.99999kHz)
		100mHz (10.0000kHz-99.9999kHz)
		1Hz (100.000kHz-999.999kHz )
		10Hz (1.00000MHz-2.00000MHz)
ACテスト信号モード	規定値 (ALC OFF)	Set the voltage as the Hcur voltage when the test terminal is open
		Set the current to be the current flowing from Hcur when the test terminal is short-circuited
	コンスタント (ALC ON)	Keep the voltage on the DUT the same as the set value
		Keep the current on the DUT the same as the set value
テスト・レベル	AC電圧	5mVrms-20Vrms	F<=1MHz 5mVrms-20Vrms	5mVrms-20Vrms
			F>1MHz 5mVrms-15Vrms
	確度	±(10%×the set value+2mV)(AC<=2Vrms)
		±(10%×the set value+5mV)(AC＞2Vrms)
	分解能	1mVrms (5mVrms-0.2Vrms)
		1mVrms (0.2Vrms-0.5Vrms)
		1mVrms (0.5Vrms-1Vrms)
		10mVrms (1Vrms-2Vrms)
		10mVrms (2Vrms-5Vrms)
		10mVrms (5Vrms-10Vrms)
		10mVrms (10Vrms-20Vrms)
	AC電流	50μArms-100mArms
	分解能(100Ω内部抵抗)	10μArms (50μArms-2mArms)
		10μArms (2mArms-5mArms)
		10μArms (5mArms-10mArms)
		100μArms (10mArms-20mArms)
		100μArms (20mArms-50mArms)
		100μArms (50mArms-100mArms)
RDCテスト	電圧	100mV-20V
	分解能	1mV (0V-1V)
		10mV (1V-20V)
	電流	0mA-100mA
	分解能	10μA (0mA-10mA)
		100μA (10mA-100mA)
DCバイアス	電圧	0V-±40V
	確度	AC<=2V 1%×the set voltage+5mV
		AC>2V 2%×the set voltage+8mV
	分解能	1mV (0V – ±1V)
		10mV (±1V – ±40V)
	電流	0mA-±100mA
	分解能	10μA (0mA-10mA)
		100μA (10mA-100mA)
ビルトイン電流ソース	電流	0mA-2A
	確度	I>5mA ±(2%×the set value+2mA)
	分解能	1mA
出力インピーダンス		30Ω, ±4%@1kHz
		100Ω, ±2%@1kHz
LCR機能
測定パラメータ	Method	Arbitrary selection of four parameters
	AC	Cp/Cs, Lp/Ls, Rp/Rs, \|Z\|, \|Y\|, R, X, G, B, θ, D, Q, VAC, IAC
	DC	RDC, VDC, IDC
テスト端子		Four Terminal Pair
テスト・ケーブル長		0m
偏差測定機能		The absolute deviation from the nominal value Δ, the percentage deviation from the nominal value Δ%
測定等価回路		Series, Parallel
補正機能		OPEN, SHORT, LOAD
アベレージ		1-255
レンジ選択		AUTO, HOLD
レンジ	LCR	100mΩ, 1Ω, 10Ω, 20Ω, 50Ω, 100Ω, 200Ω, 500Ω, 1kΩ, 2kΩ, 5kΩ, 10kΩ, 20kΩ, 50kΩ, 100kΩ
	RDC	1Ω, 10Ω, 20Ω, 50Ω, 100Ω, 200Ω, 500Ω, 1kΩ, 2kΩ, 5kΩ, 10kΩ, 20kΩ, 50kΩ, 100kΩ
測定時間 (ms)		Fast+: 1ms. Fast: 3.3ms. Middle: 90ms.
		Slow: 220ms
最高確度		0.05% Please refer to the manuals for the details
測定表示範囲
Cs, Cp		0.00001pF-9.99999F
Ls, Lp		0.00001μH-99.9999kH
D		0.00001-9.99999
Q		0.00001-99999.9
R, Rs, Rp, X, Z, RDC		0.001mΩ-99.9999MΩ
G, B, Y		0.00001μs-99.9999S
VDC		±0V-±999.999V
IDC		±0A-±999.999A
θr		-6.28318
θd		-179.999°-179.999°
Δ%		±(0.000%-999.9%)
巻線比		1：0.001—1000：1
トランス測定
測定パラメータ		Cs/Cp, Ls/Lp, DCR, Zx, Rs/Rp, D, Q, dZ, , Lk, Phase, Balance Turns-Ratio, Ns:Np=U2/U1, Np:Ns=U1/U2 Turns: Ns=Np×U2/U1, Np=Ns×U1/U2
テスト・モード	連続	In the single trigger mode, manually trigger once, and once test all the test parameters.
	ステップ	In the single trigger mode, manually trigger once to measure one parameter. Trigger again to measure the next parameter.
測定時間 (ms)	Fast	Fast: 3.3ms, Fast+ 0.56ms(>10kHz)
	Middle	Middle: 90ms
	Slow	Slow: 220ms
バイアス・リソース		See *
アベレージ回数		Each test parameter can set different average times, the average times is 0-255
ディレイ時間		Each test parameter can set a different delay time
トランス・スキャニング
ビルトイン・スキャニング・ボード		No		One Board as standard. Could extend to six boards. ((24×2)PIN per board)
トランス・ハンドラー	PIN定義	NS1-NS30, GOOD, NG, TEST, TRIGGER, RESET		NS1-NS9, GOOD, NG, TEST, TRIGGER, RESET
	出力特性	Optocoupler isolation, ULN2003 drive enhancement, collector output
モデル		Direct reading, percentage
測定レンジ		Auto, Hold
バイアス・リソース		See *
外部スキャニング・ボックス		compatible to TH1901 series, TH1831 scanning box, TH1806 series
巻数	プライマリ	60
	セカンダリ	9
アベレージ回数		Each test parameter can set different average times, the average times is 0-255
ディレイ時間		Each test parameter can set a different delay time
測定時間 (ms)	Fast	Fast: 3.3ms(>=1kHz). Fast+ : 0.56ms(>=10kHz) (Exclude the time for the realy action)
	Middle	Middle: 90ms
	Slow	Slow: 220ms
テストリード・インターフェース		25*2pin FRC socket
そのほかの特徴
ストレージ	内部	About 100M non-volatile memory test setting file
	USBメモリ	Test setting file, screenshot graph, record file
キーボード・ロック		The front panel keys can be locked
インターフェース	USBホスト	2 USB HOST ports. Mouse and keyboard could work at the same time. Only one U disk can be used at the same time.
	USBデバイス	Universal serial bus socket, small type B (4 contact positions); compatible with USB TMC-USB488 and USB2.0, the female connector is used to connect an external controller.
	LAN	10/100M Ethernet adaptive, 8 Pin
	ハンドラー	Used for Bin signal output
	外部DCバイアス・コントロール	Support TH1778A (do not support transformer scanning)
	RS232C	Standard 9-pin, cross
	RS485	Can accept modification or connect to RS232 to RS485 adaptor
起動後の暖機時間		60 Minutes
電源		100-120VAC/198-242VAC Optional, 47-63Hz
消費電力		More than 130VA
寸法 (WxHxD) mm		430mm(W)x177mm(H)x265mm(D)		430mm(W)x177mm(H)x405mm(D)
重量 (kg)		11kg		17kg

アクセサリ

標準付属アクセサリ
名称	型名
ケルビン・テストリード・テスト・フィクスチャ	TH26011BS
接続ケーブル	TH26058A
テストリード	TH26004B
マニュアル・トランス・スキャン・テスト・フィクスチャ	TH1806B
フット・スイッチ	TH1801-001