TH1991A 高精度ソース・メジャー・ユニット

TH1991/1992シリーズの機種比較

全機種共通: 1チャンネル、200mV-60V、100nA-1.5A(DC)、分解能: ソース 5.5桁 1μV/1pA、メジャー 6.5桁 100nV/100fA

特長

• 1チャンネル
• 電圧出力: ±210V
• 電流出力: ±3.03A(DC)/±10.5A(pulse)
• 分解能: ソース 5.5桁 1μV/1pA, メジャー 6.5桁 100nV/100fA

製品紹介

TH1991/TH1992シリーズの精密ソース・メジャー・ユニットは、電圧と電流を同時に出力・測定できる装置です。電流源、電圧源、電圧計、電流計の機能を1台に統合しており、各機能を自由に切り替えられます。

出力は直流電圧±210V、直流電流±3A、パルス電流±10.5Aまで対応し、ソース・測定分解能は最小10fA/100nVです。高速サンプリングと任意波形の生成にも対応します。

7インチの静電容量式タッチスクリーンとLinuxベースの対話的なGUIを備え、ダイオード、トランジスタ、MOSFET、IGBTなど向けのテスト機能を内蔵しています。I/Vカーブスキャン機能により、ホストコンピュータに接続せずにI-V特性テストを完了でき、テスト効率を大幅に高めます。

包括的なソース・測定機能により、半導体や能動・受動デバイス、各種材料のテストに適しており、研究開発・教育から産業開発、試験・製造の現場まで幅広く使われています。

半導体・ディスクリート・受動部品のテスト

ダイオード、レーザーダイオード、LED、フォトデバイス、センサ、電界効果トランジスタ、トランジスタ、IC（RFIC・MMIC）、抵抗器、可変抵抗器、サーミスタ、スイッチ

高精度エレクトロニクス・グリーンエネルギーデバイスのテスト

太陽電池、パワー半導体、バッテリー、車載・医療機器・ボードレベルテスト用の電源およびDCバイアスソース

研究・教育

新素材の研究、ナノデバイスの特性評価、巨大磁気抵抗、有機デバイス、精密I/Vソース・測定

■製品紹介

TH1991/TH1992シリーズの精密ソース/測定ユニットは、同時に電圧と電流を出力および測定できます。
この装置は電流源、電圧源、ボルトメーター、アンペアメーターの機能を統合しており、各機能を自由に切り替えることができます。

TH1991/TH1992シリーズの精密ソース/測定ユニットは、最大で±210Vの直流電圧、±3Aの直流電流、±10.5Aのパルス電流を出力でき、
最小で10fA/100nVの電源および測定分解能をサポートし、高速サンプリングをサポートし、任意の波形を生成できます。

TH1991/TH1992シリーズの精密ソース/測定ユニットは、7インチの静電容量式タッチスクリーンを採用し、Linuxオペレーティングシステムをベースに、
インタラクティブなグラフィカルユーザーインターフェースとさまざまな表示モードを提供し、ダイオード、トライオード、MOS管、IGBTなどのデバイスを内蔵しています。
I/Vカーブスキャン機能を備え、ホストコンピュータに接続せずにIV機能テストを完了でき、テスト効率を大幅に向上させます。

TH1991/TH1992シリーズの精密ソース/測定ユニットは、半導体、アクティブ/パッシブデバイス、およびさまざまなデバイスと材料のテストに理想的な、
包括的かつ統合された電源および測定機能を備えています。

TH1991/TH1992シリーズの精密ソース/測定ユニットは、研究開発および教育アプリケーション、産業開発、テストおよび製造に幅広く使用されています。

アプリケーション • 半導体、離散およびパッシブコンポーネントのテスト

ダイオード、レーザーダイオード、LED、フォトデバイス、センサ、場効トランジスタ、トライオード、IC（IC、RFIC、MMIC）、抵抗器、可変抵抗器、サーミスタ、スイッチ

• 高精度エレクトロニクスおよび環境に優しいエネルギーデバイスのテスト

太陽電池、パワーセミコンダクター；バッテリー；車両、医療機器、ボードレベルのテスト用の電源およびDCバイアスソース

• 研究および教育

新素材の研究、ナノデバイスの特性、巨大磁気抵抗、有機機器、精密I/Vソースまたは測定。

■ 出力特性曲線機能

電圧や電流を掃引しながら同時に電流や電圧を精密測定し、トランジスタやダイオードなどのI-V特性を自動で描画・解析できる機能です。デバイス評価や半導体特性試験に必須の機能です。

■ ダイオード順方向IV特性試験機能

ダイオードのアノードに正方向電圧を印加し、その際に流れる電流を測定して電圧‐電流の関係を評価する試験です。立ち上がり電圧、順方向抵抗、電流容量などを把握し、素子の健全性や性能を確認します。

■ FETしきい値電圧試験機能

ゲート‐ソース間電圧を変化させながらドレイン電流の立ち上がり点を測定し、トランジスタが導通を開始する最小電圧（Vth）を求める試験です。デバイスの動作領域や設計パラメータの確認に用いられます。

■ トランジスタ出力特性曲線機能

一定のゲート電圧を印加した状態でドレイン‐ソース間電圧を掃引し、そのときのドレイン電流を測定して得られるIVカーブです。飽和領域や線形領域の動作特性を評価できます。

■ ダイオード逆方向IV特性試験機能

カソードに対し逆方向電圧を印加し、その時に流れる微小電流（逆電流や漏れ電流）を高精度で測定する試験です。逆耐圧、漏れ電流特性の確認や素子の信頼性評価に用いられます。

■ トランジスタ Gummel 曲線機能

バイポーラトランジスタに対しベース‐エミッタ電圧を掃引し、ベース電流とコレクタ電流を同時に対数表示する機能です。ゲイン特性やリーク電流、再結合特性を詳細に評価できます。

仕様

付属品・オプション

標準付属アクセサリ
型名	名称
TH26050B	テスト・ケーブル
TH26017	USBケーブル
TH26087B	2端子バナナ to RFコネクタ変換アダプタ
TH26050S	4端子ケルビン・テスト・ケーブル

オプション・アクセサリ
型名	名称
TH26087D	4端子バナナ to RFコネクタ変換アダプタ

Accessary

標準付属アクセサリ
型式	名称	写真
TH26050B	2端子テストリード
TH26017	USBケーブル
TH26087B	2端子バナナ-トライアキシャル・テストボックス
TH26050S	4端子ケルビン・テストリード

オプション・アクセサリ
型式	名称	写真
TH26087D	4端子バナナ-トライアキシャル・テストボックス

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