TH2840AX 自動トランス・テスト・システム

Name: TH2840AX 自動トランス・テスト・システム
Brand: TECHMIZE
SKU: TH2840AX
Price: 825000 JPY
Availability: InStock

PRODUCT

1 / 5

TH2840AX

自動トランス・テスト・システム

販売価格（税込）¥825,000〜

製品仕様

20Pin、確度: 0.05%、テスト周波数: 20Hz-500kHz、テスト電圧: 20Vrms、DCバイアス: ±40V/100mA、ビルトイン2Aバイアス電流源、10.1インチ・タッチスクリーン、Linux

この製品について問い合わせデモ機を借りる

お電話でも承ります　03-6284-4428（平日9:00～18:00）

TH2840Xシリーズの機種比較

全機種共通: 確度: 0.05%、テスト電圧: 20Vrms、DCバイアス: ±40V/100mA、ビルトイン2Aバイアス電流源、10.1インチ・タッチスクリーン、Linux

型番	仕様（共通項目以外）	販売価格（税込）
TH2840AX（このページ）	20Pin、テスト周波数: 20Hz-500kHz	¥825,000〜
TH2840BX	24Pin、テスト周波数: 20Hz-2MHz	¥1,353,000〜
TH2840NX	48Pin、テスト周波数: 20Hz-500kHz	¥1,199,000〜

特長

20Pin
最高確度: 0.05%
テスト周波数: 20Hz-500kHz
テスト電圧: 5mV～20Vrms
DCバイアス: ±40V/100mA
ビルトイン2Aバイアス電流源
10.1インチ・タッチスクリーン
Linux

製品紹介

スイッチングトランスフォーマのスキャンテスト、総合的な特性分析
ネットワークトランスフォーマのスキャンテスト、総合的な特性分析
離散型パッシブコンポーネント（L、R、C）のマルチチャンネルスキャンテスト
リレードライブラインパッケージ、接点抵抗のマルチチャンネルスキャンテスト
マルチチャンネルDC抵抗（DCR）のスキャンテスト
インピーダンスネットワーク内の複数のパッシブコンポーネントの包括的なテスト分析

アプリケーション

■ スイッチングトランスフォーマのスキャンテスト、総合的な特性分析。

■ ネットワークトランスフォーマのスキャンテスト、総合的な特性分析

■ 離散型パッシブコンポーネント（L、R、C）のマルチチャンネルスキャンテスト

■ リレードライブラインパッケージ、接点抵抗のマルチチャンネルスキャンテスト

■ マルチチャンネルDC抵抗（DCR）のスキャンテスト

■ インピーダンスネットワーク内の複数のパッシブコンポーネントの包括的なテスト分析

Specifications

Model		TH2840AX	TH2840BX	TH2840NX
Display	Display	10.1″ Captive Touch Screen
	Ratio	16:09
	Resolution	1280×RGB×800
Test PIN		20PIN(By TH1806)		48PIN(Can extend to 288PIN)
Frequency	Range	20Hz-500kHz	20Hz-2MHz	20Hz-500kHz
	Accuracy	0.01%
	Resolution	0.1mHz (20.0000Hz-99.9999Hz)
		1mHz (100.000Hz-999.999Hz)
		10mHz (1.00000kHz-9.99999kHz)
		100mHz (10.0000kHz-99.9999kHz)
		1Hz (100.000kHz-999.999kHz )
		10Hz (1.00000MHz-2.00000MHz)
AC test signal mode	Rated value (ALC OFF)	Set the voltage as the Hcur voltage when the test terminal is open
		Set the current to be the current flowing from Hcur when the test terminal is short-circuited
	Constant value (ALC ON)	Keep the voltage on the DUT the same as the set value
		Keep the current on the DUT the same as the set value
Test Level	AC Voltage	5mVrms-20Vrms	F<=1MHz 5mVrms-20Vrms	5mVrms-20Vrms
			F>1MHz 5mVrms-15Vrms
	Accuracy	±(10%×the set value+2mV)(AC<=2Vrms)
		±(10%×the set value+5mV)(AC＞2Vrms)
	Resolution	1mVrms (5mVrms-0.2Vrms)
		1mVrms (0.2Vrms-0.5Vrms)
		1mVrms (0.5Vrms-1Vrms)
		10mVrms (1Vrms-2Vrms)
		10mVrms (2Vrms-5Vrms)
		10mVrms (5Vrms-10Vrms)
		10mVrms (10Vrms-20Vrms)
	AC Current	50μArms-100mArms
	Resolution(100Ω Internal Resistance)	10μArms (50μArms-2mArms)
		10μArms (2mArms-5mArms)
		10μArms (5mArms-10mArms)
		100μArms (10mArms-20mArms)
		100μArms (20mArms-50mArms)
		100μArms (50mArms-100mArms)
RDC Test	Voltage	100mV-20V
	Resolution	1mV (0V-1V)
		10mV (1V-20V)
	Current	0mA-100mA
	Resolution	10μA (0mA-10mA)
		100μA (10mA-100mA)
DC Bias *	Voltage	0V-±40V
	Accuracy	AC<=2V 1%×the set voltage+5mV
		AC>2V 2%×the set voltage+8mV
	Resolution	1mV (0V – ±1V)
		10mV (±1V – ±40V)
	Current	0mA-±100mA
	Resolution	10μA (0mA-10mA)
		100μA (10mA-100mA)
Built-in current source	Current	0mA-2A
	Accuracy	I>5mA ±(2%×the set value+2mA)
	Resolution	1mA
Output impedance		30Ω, ±4%@1kHz
		100Ω, ±2%@1kHz
LCR Function
Test Parameter	Method	Arbitrary selection of four parameters
	AC	Cp/Cs, Lp/Ls, Rp/Rs, \|Z\|, \|Y\|, R, X, G, B, θ, D, Q, VAC, IAC
	DC	RDC, VDC, IDC
Test Terminal Configuration		Four Terminal Pair
Test Cable Length		0m
Computation		The absolute deviation from the nominal value Δ, the percentage deviation from the nominal value Δ%
Equivalent Way		Series, Parallel
Calibration Function		OPEN, SHORT, LOAD
Average Times		1-255
Range Selection		AUTO, HOLD
Range Configuration	LCR	100mΩ, 1Ω, 10Ω, 20Ω, 50Ω, 100Ω, 200Ω, 500Ω, 1kΩ, 2kΩ, 5kΩ, 10kΩ, 20kΩ, 50kΩ, 100kΩ
	RDC	1Ω, 10Ω, 20Ω, 50Ω, 100Ω, 200Ω, 500Ω, 1kΩ, 2kΩ, 5kΩ, 10kΩ, 20kΩ, 50kΩ, 100kΩ
Test Speed (ms)		Fast+: 1ms. Fast: 3.3ms. Middle: 90ms.
		Slow: 220ms
Highest accuracy		0.05% Please refer to the manuals for the details
Measurement display range
Cs, Cp		0.00001pF-9.99999F
Ls, Lp		0.00001μH-99.9999kH
D		0.00001-9.99999
Q		0.00001-99999.9
R, Rs, Rp, X, Z, RDC		0.001mΩ-99.9999MΩ
G, B, Y		0.00001μs-99.9999S
VDC		±0V-±999.999V
IDC		±0A-±999.999A
θr		-6.28318
θd		-179.999°-179.999°
Δ%		±(0.000%-999.9%)
TurnsRatio		1：0.001—1000：1
Transformer Test
Test Parameter		Cs/Cp, Ls/Lp, DCR, Zx, Rs/Rp, D, Q, dZ, , Lk, Phase, Balance Turns-Ratio, Ns:Np=U2/U1, Np:Ns=U1/U2 Turns: Ns=Np×U2/U1, Np=Ns×U1/U2
Test Mode	Continous	In the single trigger mode, manually trigger once, and once test all the test parameters.
	Step	In the single trigger mode, manually trigger once to measure one parameter. Trigger again to measure the next parameter.
Test Speed (ms)	Fast	Fast: 3.3ms, Fast+ 0.56ms(>10kHz)
	Middle	Middle: 90ms
	Slow	Slow: 220ms
Bias Resource		See *
Average Times		Each test parameter can set different average times, the average times is 0-255
Time Delay		Each test parameter can set a different delay time
Transformer Scanning
Built in Scanning Board		No		One Board as standard. Could extend to six boards. ((24×2)PIN per board)
Transformer Handler	PIN Definition	NS1-NS30, GOOD, NG, TEST, TRIGGER, RESET		NS1-NS9, GOOD, NG, TEST, TRIGGER, RESET
	Output characteristics	Optocoupler isolation, ULN2003 drive enhancement, collector output
Model		Direct reading, percentage
Test Range		Auto, Hold
Bias Resource		See *
External scanning box		compatible to TH1901 series, TH1831 scanning box, TH1806 series
Number of windings	Primary	60
	Secondary	9
Average Times		Each test parameter can set different average times, the average times is 0-255
Time Delay		Each test parameter can set a different delay time
Test Speed (ms)	Fast	Fast: 3.3ms(>=1kHz). Fast+ : 0.56ms(>=10kHz) (Exclude the time for the realy action)
	Middle	Middle: 90ms
	Slow	Slow: 220ms
Test lead interface		25*2pin FRC socket
Other Functions and specifications
Storage	Internal	About 100M non-volatile memory test setting file
	U Disk	Test setting file, screenshot graph, record file
Keyboard Lock		The front panel keys can be locked
Interface	USB HOST	2 USB HOST ports. Mouse and keyboard could work at the same time. Only one U disk can be used at the same time.
	USB DEVICE	Universal serial bus socket, small type B (4 contact positions); compatible with USB TMC-USB488 and USB2.0, the female connector is used to connect an external controller.
	LAN	10/100M Ethernet adaptive, 8 Pin
	HANDLER	Used for Bin signal output
	External DC BIAS Control	Support TH1778A (do not support transformer scanning)
	RS232C	Standard 9-pin, cross
	RS485	Can accept modification or connect to RS232 to RS485 adaptor
Power-on Warm-up Time		60 Minutes
Output Voltage		100-120VAC/198-242VAC Optional, 47-63Hz
Power Consumption		More than 130VA
Size (WxHxD) mm		430mm(W)x177mm(H)x265mm(D)		430mm(W)x177mm(H)x405mm(D)
Weight (kg)		11kg		17kg

Accessary

Standard
Accessories name	Model
Kelvin test lead with box four-terminal insulation and lock	TH26011BS
Connection Cable	TH26058A
Test line at both ends	TH26004B
Manual transformer scan test fixture	TH1806B
Foot switch	TH1801-001

Downloads

Specification of TH2840X Series.pdf	Download
TH2840, TH2840X Series Operation Manual.pdf	Download

アプリケーション

■ スイッチングトランスフォーマのスキャンテスト、総合的な特性分析。

■ ネットワークトランスフォーマのスキャンテスト、総合的な特性分析

■ 離散型パッシブコンポーネント（L、R、C）のマルチチャンネルスキャンテスト

■ リレードライブラインパッケージ、接点抵抗のマルチチャンネルスキャンテスト

■ マルチチャンネルDC抵抗（DCR）のスキャンテスト

■ インピーダンスネットワーク内の複数のパッシブコンポーネントの包括的なテスト分析

Specifications

Model		TH2840AX	TH2840BX	TH2840NX
Display	Display	10.1" Captive Touch Screen
	Ratio	16:09
	Resolution	1280×RGB×800
Test PIN		20PIN(By TH1806)		48PIN(Can extend to 288PIN)
Frequency	Range	20Hz-500kHz	20Hz-2MHz	20Hz-500kHz
	Accuracy	0.01%
	Resolution	0.1mHz (20.0000Hz-99.9999Hz)
		1mHz (100.000Hz-999.999Hz)
		10mHz (1.00000kHz-9.99999kHz)
		100mHz (10.0000kHz-99.9999kHz)
		1Hz (100.000kHz-999.999kHz )
		10Hz (1.00000MHz-2.00000MHz)
AC test signal mode	Rated value (ALC OFF)	Set the voltage as the Hcur voltage when the test terminal is open
		Set the current to be the current flowing from Hcur when the test terminal is short-circuited
	Constant value (ALC ON)	Keep the voltage on the DUT the same as the set value
		Keep the current on the DUT the same as the set value
Test Level	AC Voltage	5mVrms-20Vrms	F<=1MHz 5mVrms-20Vrms	5mVrms-20Vrms
			F>1MHz 5mVrms-15Vrms
	Accuracy	±(10%×the set value+2mV)(AC<=2Vrms)
		±(10%×the set value+5mV)(AC＞2Vrms)
	Resolution	1mVrms (5mVrms-0.2Vrms)
		1mVrms (0.2Vrms-0.5Vrms)
		1mVrms (0.5Vrms-1Vrms)
		10mVrms (1Vrms-2Vrms)
		10mVrms (2Vrms-5Vrms)
		10mVrms (5Vrms-10Vrms)
		10mVrms (10Vrms-20Vrms)
	AC Current	50μArms-100mArms
	Resolution(100Ω Internal Resistance)	10μArms (50μArms-2mArms)
		10μArms (2mArms-5mArms)
		10μArms (5mArms-10mArms)
		100μArms (10mArms-20mArms)
		100μArms (20mArms-50mArms)
		100μArms (50mArms-100mArms)
RDC Test	Voltage	100mV-20V
	Resolution	1mV (0V-1V)
		10mV (1V-20V)
	Current	0mA-100mA
	Resolution	10μA (0mA-10mA)
		100μA (10mA-100mA)
DC Bias *	Voltage	0V-±40V
	Accuracy	AC<=2V 1%×the set voltage+5mV
		AC>2V 2%×the set voltage+8mV
	Resolution	1mV (0V - ±1V)
		10mV (±1V - ±40V)
	Current	0mA-±100mA
	Resolution	10μA (0mA-10mA)
		100μA (10mA-100mA)
Built-in current source	Current	0mA-2A
	Accuracy	I>5mA ±(2%×the set value+2mA)
	Resolution	1mA
Output impedance		30Ω, ±4%@1kHz
		100Ω, ±2%@1kHz
LCR Function
Test Parameter	Method	Arbitrary selection of four parameters
	AC	Cp/Cs, Lp/Ls, Rp/Rs, \|Z\|, \|Y\|, R, X, G, B, θ, D, Q, VAC, IAC
	DC	RDC, VDC, IDC
Test Terminal Configuration		Four Terminal Pair
Test Cable Length		0m
Computation		The absolute deviation from the nominal value Δ, the percentage deviation from the nominal value Δ%
Equivalent Way		Series, Parallel
Calibration Function		OPEN, SHORT, LOAD
Average Times		1-255
Range Selection		AUTO, HOLD
Range Configuration	LCR	100mΩ, 1Ω, 10Ω, 20Ω, 50Ω, 100Ω, 200Ω, 500Ω, 1kΩ, 2kΩ, 5kΩ, 10kΩ, 20kΩ, 50kΩ, 100kΩ
	RDC	1Ω, 10Ω, 20Ω, 50Ω, 100Ω, 200Ω, 500Ω, 1kΩ, 2kΩ, 5kΩ, 10kΩ, 20kΩ, 50kΩ, 100kΩ
Test Speed (ms)		Fast+: 1ms. Fast: 3.3ms. Middle: 90ms.
		Slow: 220ms
Highest accuracy		0.05% Please refer to the manuals for the details
Measurement display range
Cs, Cp		0.00001pF-9.99999F
Ls, Lp		0.00001μH-99.9999kH
D		0.00001-9.99999
Q		0.00001-99999.9
R, Rs, Rp, X, Z, RDC		0.001mΩ-99.9999MΩ
G, B, Y		0.00001μs-99.9999S
VDC		±0V-±999.999V
IDC		±0A-±999.999A
θr		-6.28318
θd		-179.999°-179.999°
Δ%		±(0.000%-999.9%)
TurnsRatio		1：0.001—1000：1
Transformer Test
Test Parameter		Cs/Cp, Ls/Lp, DCR, Zx, Rs/Rp, D, Q, dZ, , Lk, Phase, Balance Turns-Ratio, Ns:Np=U2/U1, Np:Ns=U1/U2 Turns: Ns=Np×U2/U1, Np=Ns×U1/U2
Test Mode	Continous	In the single trigger mode, manually trigger once, and once test all the test parameters.
	Step	In the single trigger mode, manually trigger once to measure one parameter. Trigger again to measure the next parameter.
Test Speed (ms)	Fast	Fast: 3.3ms, Fast+ 0.56ms(>10kHz)
	Middle	Middle: 90ms
	Slow	Slow: 220ms
Bias Resource		See *
Average Times		Each test parameter can set different average times, the average times is 0-255
Time Delay		Each test parameter can set a different delay time
Transformer Scanning
Built in Scanning Board		No		One Board as standard. Could extend to six boards. ((24×2)PIN per board)
Transformer Handler	PIN Definition	NS1-NS30, GOOD, NG, TEST, TRIGGER, RESET		NS1-NS9, GOOD, NG, TEST, TRIGGER, RESET
	Output characteristics	Optocoupler isolation, ULN2003 drive enhancement, collector output
Model		Direct reading, percentage
Test Range		Auto, Hold
Bias Resource		See *
External scanning box		compatible to TH1901 series, TH1831 scanning box, TH1806 series
Number of windings	Primary	60
	Secondary	9
Average Times		Each test parameter can set different average times, the average times is 0-255
Time Delay		Each test parameter can set a different delay time
Test Speed (ms)	Fast	Fast: 3.3ms(>=1kHz). Fast+ : 0.56ms(>=10kHz) (Exclude the time for the realy action)
	Middle	Middle: 90ms
	Slow	Slow: 220ms
Test lead interface		25*2pin FRC socket
Other Functions and specifications
Storage	Internal	About 100M non-volatile memory test setting file
	U Disk	Test setting file, screenshot graph, record file
Keyboard Lock		The front panel keys can be locked
Interface	USB HOST	2 USB HOST ports. Mouse and keyboard could work at the same time. Only one U disk can be used at the same time.
	USB DEVICE	Universal serial bus socket, small type B (4 contact positions); compatible with USB TMC-USB488 and USB2.0, the female connector is used to connect an external controller.
	LAN	10/100M Ethernet adaptive, 8 Pin
	HANDLER	Used for Bin signal output
	External DC BIAS Control	Support TH1778A (do not support transformer scanning)
	RS232C	Standard 9-pin, cross
	RS485	Can accept modification or connect to RS232 to RS485 adaptor
Power-on Warm-up Time		60 Minutes
Output Voltage		100-120VAC/198-242VAC Optional, 47-63Hz
Power Consumption		More than 130VA
Size (WxHxD) mm		430mm(W)x177mm(H)x265mm(D)		430mm(W)x177mm(H)x405mm(D)
Weight (kg)		11kg		17kg

Accessary

Standard
Accessories name	Model
Kelvin test lead with box four-terminal insulation and lock	TH26011BS
Connection Cable	TH26058A
Test line at both ends	TH26004B
Manual transformer scan test fixture	TH1806B
Foot switch	TH1801-001

Downloads

Specification of TH2840X Series.pdf	Download
TH2840, TH2840X Series Operation Manual.pdf	Download

仕様

型番	TH2840AX	TH2840BX	TH2840NX
ディスプレイ	10.1″ Captive Touch Screen
アスペクト比	16:9
解像度	1280×RGB×800
インターフェース
USBホスト	USB HOSTポート×2。マウスとキーボードを同時に接続可能（USBメモリは同時に1本のみ）
USBデバイス	Universal serial bus socket, small type B (4 contact positions); compatible with USB TMC-USB488 and USB2.0, the female connector is used to connect an external controller.
LAN	10/100M Ethernet adaptive, 8 Pin
ハンドラー	ビン信号出力用
外部DCバイアス・コントロール	TH1778A対応（トランス掃引は非対応）
RS232C	Standard 9-pin, cross
RS485	改造対応、または外付けのRS232-RS485変換アダプタで対応
消費電力	130VA以下
レンジ
LCR	100mΩ, 1Ω, 10Ω, 20Ω, 50Ω, 100Ω, 200Ω, 500Ω, 1kΩ, 2kΩ, 5kΩ, 10kΩ, 20kΩ, 50kΩ, 100kΩ
RDC	1Ω, 10Ω, 20Ω, 50Ω, 100Ω, 200Ω, 500Ω, 1kΩ, 2kΩ, 5kΩ, 10kΩ, 20kΩ, 50kΩ, 100kΩ
ストレージ
内部	約100MBの不揮発メモリにテスト設定ファイルを保存
USBメモリ	テスト設定ファイル、画面キャプチャ、記録ファイル
Δ%	±(0.000%-999.9%)
Cs、Cp	0.00001pF-9.99999F
Ls、Lp	0.00001μH-99.9999kH
G、B、Y	0.00001μs-99.9999S
Vdc	±0V-±999.999V
Idc	±0A-±999.999A
θr	-6.28318
測定時間 (ms)
LCR機能
Fast+	1ms
Fast	3.3ms
Middle	90ms
Slow	220ms
トランス測定
Fast	Fast: 3.3ms, Fast+ 1ms(>10kHz)
Middle	Middle: 90ms
Slow	Slow: 220ms
トランス・スキャニング
Fast	Fast: 3.3ms（≥1kHz）、Fast+: 1ms（≥10kHz）（リレー動作時間を除く）
Middle	Middle: 90ms
Slow	Slow: 220ms
測定パラメータ
LCR機能
Method	4パラメータを任意に選択可能
AC	Cp/Cs, Lp/Ls, Rp/Rs, \|Z\|, \|Y\|, R, X, G, B, θ, D, Q, VAC, IAC
DC	RDC, VDC, IDC
トランス測定	Cs/Cp, Ls/Lp, DCR, Zx, Rs/Rp, D, Q, dZ, , Lk, Phase, Balance Turns-Ratio, Ns:Np=U2/U1, Np:Ns=U1/U2 Turns: Ns=Np×U2/U1, Np=Ns×U1/U2
DCバイアス
電圧	0V-±40V
確度
AC<=2V	1%×the set voltage+5mV
AC>2V	2%×the set voltage+8mV
分解能
0V – ±1V	1mV (0V – ±1V)
±1V – ±40V	10mV (±1V – ±40V)
0mA-10mA	10μA (0mA-10mA)
10mA-100mA	100μA (10mA-100mA)
電流	0mA-±100mA
補正機能	OPEN, SHORT, LOAD
起動後の暖機時間	60 Minutes
偏差測定機能	公称値からの絶対偏差Δ、公称値からの百分率偏差Δ%
キーボード・ロック	前面パネルのキーロック対応
アベレージ	1-255
測定レンジ	Auto, Hold
テスト・モード
連続	シングルトリガモードでは、1回のトリガで全テストパラメータを測定します
ステップ	シングルトリガモードでは、1回のトリガで1パラメータを測定し、次のトリガで次のパラメータを測定します
テスト端子	Four Terminal Pair
テスト・レベル
AC電圧	5mVrms-20Vrms	—	5mVrms-20Vrms
F<=1MHz	—	5mVrms-20Vrms	—
F>1MHz	—	5mVrms-15Vrms	—
確度
AC≤2Vrms	±（10%×設定値+2mV）（AC≤2Vrms）
AC＞2Vrms	±（10%×設定値+5mV）（AC＞2Vrms）
分解能
5mVrms-0.2Vrms	1mVrms (5mVrms-0.2Vrms)
0.2Vrms-0.5Vrms	1mVrms (0.2Vrms-0.5Vrms)
0.5Vrms-1Vrms	1mVrms (0.5Vrms-1Vrms)
1Vrms-2Vrms	10mVrms (1Vrms-2Vrms)
2Vrms-5Vrms	10mVrms (2Vrms-5Vrms)
5Vrms-10Vrms	10mVrms (5Vrms-10Vrms)
10Vrms-20Vrms	10mVrms (10Vrms-20Vrms)
AC電流	50μArms-100mArms
分解能(100Ω内部抵抗)
50μArms-2mArms	10μArms (50μArms-2mArms)
2mArms-5mArms	10μArms (2mArms-5mArms)
5mArms-10mArms	10μArms (5mArms-10mArms)
10mArms-20mArms	100μArms (10mArms-20mArms)
20mArms-50mArms	100μArms (20mArms-50mArms)
50mArms-100mArms	100μArms (50mArms-100mArms)
測定等価回路	Series, Parallel
最高確度	0.05% Please refer to the manuals for the details
テスト・ケーブル長	0m
レンジ選択	AUTO, HOLD
周波数
範囲	20Hz-500kHz	20Hz-2MHz	20Hz-500kHz
確度	0.01%
分解能
20.0000Hz-99.9999Hz	0.1mHz (20.0000Hz-99.9999Hz)
100.000Hz-999.999Hz	1mHz (100.000Hz-999.999Hz)
1.00000kHz-9.99999kHz	10mHz (1.00000kHz-9.99999kHz)
10.0000kHz-99.9999kHz	100mHz (10.0000kHz-99.9999kHz)
100.000kHz-999.999kHz	1Hz (100.000kHz-999.999kHz )
1.00000MHz-2.00000MHz	10Hz (1.00000MHz-2.00000MHz)
D	0.00001-9.99999
Q	0.00001-99999.9
θd	-179.999°-179.999°
テスト・ピン	20PIN(By TH1806)		48ピン（最大288ピンまで拡張可能）
ACテスト信号モード
規定値 (ALC OFF)
電圧	テスト端子開放時のHcur電圧を設定値とする
電流	テスト端子短絡時にHcurから流れる電流を設定値とする
コンスタント (ALC ON)
電圧	DUTにかかる電圧を設定値に保つ
電流	DUTに流れる電流を設定値に保つ
RDCテスト
電圧	100mV-20V
分解能
0V-1V	1mV (0V-1V)
1V-20V	10mV (1V-20V)
0mA-10mA	10μA (0mA-10mA)
10mA-100mA	100μA (10mA-100mA)
電流	0mA-100mA
ビルトイン電流ソース
電流	0mA-2A
確度	I>5mA ±(2%×the set value+2mA)
分解能	1mA
寸法 (WxHxD) mm	430mm(W)x177mm(H)x265mm(D)		430mm(W)x177mm(H)x405mm(D)
重量 (kg)	11kg		17kg
出力インピーダンス
30Ω	30Ω, ±4%@1kHz
100Ω	100Ω, ±2%@1kHz
電源	100-120VAC/198-242VAC Optional, 47-63Hz
R, Rs, Rp, X, Z, RDC	0.001mΩ-99.9999MΩ
バイアス・リソース
トランス測定	See *
トランス・スキャニング	See *
アベレージ回数
トランス測定	テストパラメータごとにアベレージ回数（1～255）を設定可能
トランス・スキャニング	テストパラメータごとにアベレージ回数（1～255）を設定可能
ディレイ時間
トランス測定	テストパラメータごとに異なる遅延時間を設定可能
トランス・スキャニング	テストパラメータごとに異なる遅延時間を設定可能
測定表示範囲
巻線比	1：0.001—1000：1
トランス・スキャニング
ビルトイン・スキャニング・ボード	No		One Board as standard. Could extend to six boards. ((24×2)PIN per board)
外部スキャニング・ボックス	compatible to TH1901 series, TH1831 scanning box, TH1806 series
テストリード・インターフェース	25*2pin FRC socket
トランス・ハンドラー
PIN定義	NS1-NS30, GOOD, NG, TEST, TRIGGER, RESET		NS1-NS9, GOOD, NG, TEST, TRIGGER, RESET
出力特性	フォトカプラ絶縁、ULN2003ドライブ、コレクタ出力
巻数
プライマリ	60
セカンダリ	9
モデル	Direct reading, percentage

付属品・オプション

標準付属アクセサリ
名称	型名
ケルビン・テストリード・テスト・フィクスチャ	TH26011BS
接続ケーブル	TH26058A
テストリード	TH26004B
マニュアル・トランス・スキャン・テスト・フィクスチャ	TH1806B
フット・スイッチ	TH1801-001

資料ダウンロード

日本語資料をご希望の場合はお問い合わせフォームからご請求ください。

TH2840AX についてご相談ください

仕様の適合や機種選定でお迷いの場合は、測定対象と条件をお知らせください。適した機種をご提案します。実機で確認したい場合はデモ機の貸出も承ります。

この製品について問い合わせデモ機を借りる

同じカテゴリの製品

自動トランス・テスト・システムの一覧 →

TH2829AX自動トランス・テスト・システム20Pin、確度: 0.05%、テスト周波数: 20Hz-200kHz¥495,000〜税込

TH2829CX自動トランス・テスト・システム20Pin、確度: 0.05%、テスト周波数: 20Hz-1MHz¥979,000〜税込

TH2840BX自動トランス・テスト・システム24Pin、確度: 0.05%、テスト周波数: 20Hz-2MHz¥1,353,000〜税込

TH2840NX自動トランス・テスト・システム48Pin、確度: 0.05%、テスト周波数: 20Hz-500kHz¥1,199,000〜税込