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TH512 半導体CV特性測定器

PRODUCT
TH512 半導体CV特性測定器 写真11 / 2
TH512

半導体CV特性測定器

販売価格(税抜)¥4,310,000
製品仕様

Ciss、Coss、Crss、Rg、スポット・テスト、リスト・スキャン、テスト周波数: 1kHz-2MHzVGS: ±40VVDS: ±1500V、2チャンネル

お電話でも承ります 03-6284-4428(平日9:00~18:00)

アプリケーション

半導体コンポーネント/電力コンポーネント

ダイオード、トランジスタ、MOSFET、IGBT、サイリスタ、集積回路、光電子チップなどの寄生容量テストおよびC-V特性分析

半導体材料

ウェハー、C-V特性分析

液晶材料

弾性定数分析

電気容量要素

コンデンサC-V特性テストおよび分析、電気容量センサーテストおよび分析

TH510シリーズの主な機能:スポット・テスト、リスト・スキャン、グラフィック・スキャン TH510シリーズの設定画面、10BIN選別とハンドラ・インターフェース、ファームウェア更新 半導体部品の寄生容量(Ciss、Coss、Crss、Rg)の測定原理

仕様

型名TH511TH512TH513
チャンネル数2 (4/6 Ch Optional)1
ディスプレイディスプレイ10.1-inch capacitive touchscreen
アスペクト比16:9
解像度1280*RGB*800
測定パラメータCiss、Coss、Crss、Rg の4パラメータを任意に選択可能
テスト周波数範囲1kHz-2MHz
確度0.01%
分解能10mHz          1.00000kHz-9.99999kHz
100mHz        10.0000kHz-99.9999kHz
1Hz                100.000kHz-999.999kHz
10Hz              1.00000MHz-2.00000MHz
テスト・レベル電圧範囲5mVrms-2Vrms
確度± (10%*Setting Value+2mV)
分解能1mVrms           5mVrms-1Vrms
10mVrms         1Vrms-2Vrms
Vgs範囲0 – ±40V
確度1%* Setting Voltage+8mV
分解能1mV                 0V – ±10V
10mV               ±10V – ±40V
Vds範囲0 – ±200V0 – ±1500V0 – ±3000V
確度1%* Setting Voltage+100mV
出力インピーダンス100Ω, ±2%@1kHz
偏差測定機能公称値からの絶対偏差Δ、公称値からの百分率偏差Δ%
補正機能OPEN, SHORT, LOAD
アベレージ1-255 times
測定時間 (ms/time)Fast+: 0.56ms (>5kHz), Fast: 3.3ms, Middle: 90ms, Slow: 220ms.
基本確度0.1%
Ciss, Coss, Crss0.00001pF – 9.99999F
Rg0.001mΩ – 99.9999MΩ
Δ%±(0.000% – 999.9%)
リスト掃引ポイント数20ポイント。ポイントごとにアベレージ回数を設定でき、個別に選別可能
パラメータTest Frequency, Vg, Vd, Channel
トリガ・モードSequence SEQ: After one trigger, measure at all sweep points, /EOM/INDEX output only once.
Step: perform a sweep point measurement per trigger, each point outputs /EOM/INDEX, but the list scan comparator result is only output at the last /EOM
トレース掃引ポイント数任意のポイントを選択可能(最大1001ポイント)
測定結果Multiple curves with the same parameter and different Vg;
multiple curves with the same Vg and different parameters.
表示範囲リアルタイム自動/固定
座標軸Logarithmic, linear
パラメータVg, Vd
トリガ・モードシングル1回のトリガで開始から終了までの掃引を実行し、次のトリガで新しい掃引を開始します
連続開始ポイントから終了ポイントまでを無限ループで掃引
測定結果のセーブGraphics, files
コンパレーターBin10Bin, PASS, FAIL
Bin偏差設定偏差値、百分率偏差、オフ
BinモードTolerance, continuous
Binカウント0-99999
Bin判定各ビンに最大4つのパラメータ上下限を設定できます。4つの測定結果がすべて設定範囲内なら該当ビン番号を表示し、最大ビン番号の範囲を超えるとFAILを表示します。上下限のないパラメータは自動的に無視されます
PASS/FAIL表示Bin1〜10に該当すると前面パネルのPASSランプ、それ以外はFAILランプが点灯
データ・キャッシュ測定結果201件を一括読み出し可能
セーブ/リコール内部約100MBの不揮発メモリにテスト設定ファイルを保存
外部USBメモリテスト設定ファイル、画面キャプチャ、記録ファイル
キーボード・ロック前面パネルのキーロック対応(その他機能は拡張予定)
インターフェースUSBホストUSB HOSTポート×2。マウスとキーボードを同時に接続可能(USBメモリは同時に1本のみ)
USBデバイスUSBデバイスポート:小型Bタイプ(4接点)。USB TMC-USB488およびUSB2.0準拠。外部コントローラ接続用
LAN10/100M Ethernet、8ピン、2速度対応
ハンドラービン信号出力用
RS232CStandard 9-pin, crossed
RS485改造対応、または外付けのRS232-RS485変換モジュールで対応
起動後の暖機時間60 Minutes
電源100-120VAC/198-242VAC Option, 47-63Hz
消費電力More than 130VA
寸法 (W*H*D) mm430*177*405
重量16kg

アクセサリ

標準付属アクセサリ
名称型名
テスト・フィクスチャTH26063BTH26063B
テスト・フィクスチャTH26063CTH26063C
TH510 フィクスチャ制御接続ケーブルTH26063DTH26063D
TH510 測定延長ケーブルTH26063GTH26063G

資料ダウンロード

資料は英語版です。日本語資料をご希望の場合はお問い合わせフォームからご請求ください。

仕様表にはメーカーの同系列機種を併記しています。国内でお取り扱いのある機種は次のとおりです。

TH511TH512(このページ)TH513(国内取扱なし)

TH512 についてご相談ください

仕様の適合や機種選定でお迷いの場合は、測定対象と条件をお知らせください。適した機種をご提案します。実機で確認したい場合はデモ機の貸出も承ります。

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